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2015年研討會活動照片
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分組討論圖片
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研討會舉辦圖片
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IC可用性測試圖片
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課程內容涵蓋 半導體積體電路的信頼性概念品質・信頼性保証系統，信頼性試験. 半導體元件之故障機制. 故障機制故障解析. 電、熱、安全設計考量. 影響積體電路品質・信頼性的注意事項. Minitab 信頼性分析工具實例解說. 車規積體電路的信頼性驗證解說. 製程及產品信頼性驗證及設計規範實例。
備註: 授課講師針對本課程保有調整及增刪等權利
| 時間 | 主題 | 內容 | 主持人/演講者 |
|---|---|---|---|
| 09:00:00 | 09:30:00 |
報到 | 報到並領取講義 | |
| 09:30:00 | 09:35:00 |
致歡迎詞 | 協會主持人致歡迎詞 | |
| 09:35:00 | 10:45:00 |
Quality Assurance for Semiconductor Devices | 主題分享 | |
| 10:45:00 | 11:00:00 |
Break | 茶敘：敬備餐點 | |
| 11:00:00 | 12:00:00 |
Reliability Testing for Semiconductor Devices and Reliability Prediction -- Semiconductor Device Failure Mechanisms | 主題分享 | |
| 12:00:00 | 13:30:00 |
午餐 | 中午休息：敬備午餐 | |
| 13:30:00 | 14:50:00 |
Semiconductor Device Failure Analysis -- Introduction to AEC Q100 (Stress Test Qualification for Automotive Grade Discrete Semiconductors) | 主題分享 | |
| 14:50:00 | 15:10:00 |
Break | 茶敘：敬備餐點 | |
| 15:10:00 | 16:30:00 |
Case Study and Discussion | 實際案例演練 | |
| 16:30:00 | 17:00:00 |
綜合討論 | 問題提問與心得分享 |
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- 新竹清華大學自強科學基金會 半導體品質與可靠度講師 -
【經歷】：美國SRC 助理研究員 (1984)、美國加州/ Palo Alto hp ICBD 積體電路信頼性工程處. MTS (1988)美國加州/ Sunnyvale Mitsubishi Semiconductors (Renesas)快閃記憶體行銷/產品應用工程處. Sr. Applications (1996) 、美國加州/ Sunnyvale AMD California K6 微處理機Design Center 產品信頼性工程處. CPU 產品信頼性 MTS (1998) 、台灣新竹 台積電 ( tsmc) 品質暨可靠度工程處. 車規快閃微控處理機信頼性.技術經理 (2000 ~ 2007;已退休)
課程內容涵蓋 半導體積體電路的信頼性概念品質・信頼性保証系統，信頼性試験. 半導體元件之故障機制. 故障機制故障解析. 電、熱、安全設計考量. 影響積體電路品質・信頼性的注意事項. Minitab 信頼性分析工具實例解說. 車規積體電路的信頼性驗證解說. 製程及產品信頼性驗證及設計規範實例。